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品質量測技術 / 非破壞檢驗螢光滲檢技術
 
螢光滲透檢驗(Fluorescent Penetrant Inspection, FPI)屬於非破壞檢驗(NDT)方法之一,主要針對非多孔性固體材料的表面缺陷進行檢測。該技術利用螢光型滲透劑藉由毛細作用滲入檢測物件表面的微小間隙或裂縫,再透過去除多餘滲透劑(Method D—水洗法)及施加顯像劑,使滲透劑自裂縫等缺陷中被吸引出來並在紫外光(UV-A)照射下發出明顯的螢光。此技術對於發現細微缺陷如裂縫、氣孔及夾屑等具有極高的靈敏度。螢光滲檢測技術獲客戶賽峰(Safran)公司、奇異(GE Aviation)公司及航太第三方NADCAP國際認證。

 
 
 
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